Excess electronic recoil events in XENON1T

Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F.  D.; Antochi, V.  C.; Angelino, E.; Angevaare, J.  R.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M.  L.; Berger, T.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J.  M.  R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A.  P.; Conrad, J.; Cussonneau, J.  P.; Decowski, M.  P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Di Stefano, R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A.  D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Galloway, M.; Gao, F.; Grandi, L.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R.  F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J.  A.  M.; López Fune, E.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Marrodán Undagoitia, T.; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Mizukoshi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Qin, J.; Qiu, H.; Ramírez García, D.; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; dos Santos, J.  M.  F.; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Scotto Lavina, L.; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Volta, G.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J.  P.; Mougeot, X.

doi:10.1103/PhysRevD.102.072004

Excess electronic recoil events in XENON1T / Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Di Stefano, R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A. D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Galloway, M.; Gao, F.; Grandi, L.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; López Fune, E.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Marrodán Undagoitia, T.; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Mizukoshi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Qin, J.; Qiu, H.; Ramírez García, D.; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; dos Santos, J. M. F.; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Scotto Lavina, L.; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Volta, G.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.; Mougeot, X.. - In: PHYSICAL REVIEW D. - ISSN 2470-0010. - 102:7(2020). [10.1103/PhysRevD.102.072004]

Titolo:	Excess electronic recoil events in XENON1T
Autori:	Aprile, E. Aalbers, J. AGOSTINI, FEDERICA Alfonsi, M. Althueser, L. Amaro, F. D. Antochi, V. C. Angelino, E. Angevaare, J. R. Arneodo, F. Barge, D. Baudis, L. Bauermeister, B. Bellagamba, L. Benabderrahmane, M. L. Berger, T. Brown, A. Brown, E. Bruenner, S. Bruno, G. Budnik, R. Capelli, C. Cardoso, J. M. R. Cichon, D. Cimmino, B. Clark, M. Coderre, D. Colijn, A. P. Conrad, J. Cussonneau, J. P. Decowski, M. P. Depoian, A. Di Gangi, P. DI GIOVANNI, ADRIANO Di Stefano, R. Diglio, S. Elykov, A. Eurin, G. Ferella, A. D. Fulgione, W. Gaemers, P. Gaior, R. Galloway, M. Gao, F. Grandi, L. Hasterok, C. Hils, C. Hiraide, K. Hoetzsch, L. Howlett, J. Iacovacci, M. Itow, Y. Joerg, F. Kato, N. Kazama, S. Kobayashi, M. Koltman, G. Kopec, A. Landsman, H. Lang, R. F. Levinson, L. Lin, Q. Lindemann, S. Lindner, M. Lombardi, F. Long, J. Lopes, J. A. M. López Fune, E. Macolino, C. Mahlstedt, J. Mancuso, A. Manenti, L. Manfredini, A. Marignetti, F. Marrodán Undagoitia, T. Martens, K. Masbou, J. Masson, D. Mastroianni, S. MESSINA, MARCELLO Miuchi, K. Mizukoshi, K. MOLINARIO, ANDREA Morå, K. Moriyama, S. Mosbacher, Y. Murra, M. Naganoma, J. Ni, K. Oberlack, U. Odgers, K. Palacio, J. Pelssers, B. Peres, R. Pienaar, J. Pizzella, V. Plante, G. Qin, J. Qiu, H. Ramírez García, D. Reichard, S. Rocchetti, A. Rupp, N. dos Santos, J. M. F. Sartorelli, G. Šarčević, N. Scheibelhut, M. Schreiner, J. Schulte, D. Schumann, M. Scotto Lavina, L. SELVI, MARCO Semeria, F. Shagin, P. Shockley, E. Silva, M. Simgen, H. Takeda, A. Therreau, C. Thers, D. Toschi, F. Trinchero, G. Tunnell, C. Vargas, M. Volta, G. Wang, H. Wei, Y. WEINHEIMER, CHRISTIAN PHILIPP Weiss, M. Wenz, D. Wittweg, C. Xu, Z. Yamashita, M. Ye, J. Zavattini, G. Zhang, Y. Zhu, T. Zopounidis, J. P. Mougeot, X. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2020
Rivista:	PHYSICAL REVIEW D
Handle:	http://hdl.handle.net/20.500.12571/24615
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/20.500.12571/24615

Citazioni

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

CINECA IRIS Institutional Research Information System

File in questo prodotto: