Excess electronic recoil events in XENON1T

Aprile, E.;Aalbers, J.;Agostini, F.;Alfonsi, M.;Althueser, L.;Amaro, F.  D.;Antochi, V.  C.;Angelino, E.;Angevaare, J.  R.;Arneodo, F.;Barge, D.;Baudis, L.;Bauermeister, B.;Bellagamba, L.;Benabderrahmane, M.  L.;Berger, T.;Brown, A.;Brown, E.;Bruenner, S.;Bruno, G.;Budnik, R.;Capelli, C.;Cardoso, J.  M.  R.;Cichon, D.;Cimmino, B.;Clark, M.;Coderre, D.;Colijn, A.  P.;Conrad, J.;Cussonneau, J.  P.;Decowski, M.  P.;Depoian, A.;Di Gangi, P.;Di Giovanni, A.;Di Stefano, R.;Diglio, S.;Elykov, A.;Eurin, G.;Ferella, A.  D.;Fulgione, W.;Gaemers, P.;Gaior, R.;Galloway, M.;Gao, F.;Grandi, L.;Hasterok, C.;Hils, C.;Hiraide, K.;Hoetzsch, L.;Howlett, J.;Iacovacci, M.;Itow, Y.;Joerg, F.;Kato, N.;Kazama, S.;Kobayashi, M.;Koltman, G.;Kopec, A.;Landsman, H.;Lang, R.  F.;Levinson, L.;Lin, Q.;Lindemann, S.;Lindner, M.;Lombardi, F.;Long, J.;Lopes, J.  A.  M.;López Fune, E.;Macolino, C.;Mahlstedt, J.;Mancuso, A.;Manenti, L.;Manfredini, A.;Marignetti, F.;Marrodán Undagoitia, T.;Martens, K.;Masbou, J.;Masson, D.;Mastroianni, S.;Messina, M.;Miuchi, K.;Mizukoshi, K.;Molinario, A.;Morå, K.;Moriyama, S.;Mosbacher, Y.;Murra, M.;Naganoma, J.;Ni, K.;Oberlack, U.;Odgers, K.;Palacio, J.;Pelssers, B.;Peres, R.;Pienaar, J.;Pizzella, V.;Plante, G.;Qin, J.;Qiu, H.;Ramírez García, D.;Reichard, S.;Rocchetti, A.;Rupp, N.;dos Santos, J.  M.  F.;Sartorelli, G.;Šarčević, N.;Scheibelhut, M.;Schreiner, J.;Schulte, D.;Schumann, M.;Scotto Lavina, L.;Selvi, M.;Semeria, F.;Shagin, P.;Shockley, E.;Silva, M.;Simgen, H.;Takeda, A.;Therreau, C.;Thers, D.;Toschi, F.;Trinchero, G.;Tunnell, C.;Vargas, M.;Volta, G.;Wang, H.;Wei, Y.;Weinheimer, C.;Weiss, M.;Wenz, D.;Wittweg, C.;Xu, Z.;Yamashita, M.;Ye, J.;Zavattini, G.;Zhang, Y.;Zhu, T.;Zopounidis, J.  P.;Mougeot, X.

2020-01-01